ATA-2042高(gao)壓放大器作為(wei)安(an)泰電子(zi)(zi)的(de)(de)明(ming)星產品，憑借其(qi)優(you)異的(de)(de)指標參數受到不少(shao)電子(zi)(zi)工程師的(de)(de)喜(xi)歡，其(qi)在(zai)電子(zi)(zi)實驗(yan)中的(de)(de)應用也非常頻繁，下面為(wei)大家整理出ATA-2042高(gao)壓放大器的(de)(de)應用案例合集，希望能對領域(yu)內各位工程師、研究人員有所幫助(zhu)。

　　案例一：ATA-2042高壓放大器在(zai)非(fei)線性超聲(sheng)傳播(bo)研究中的應用

　　該實驗使用(yong)了ATA-2042高壓放大器(qi)(qi)(qi)、示波器(qi)(qi)(qi)、信號發生(sheng)器(qi)(qi)(qi)、超聲換能器(qi)(qi)(qi)等(deng)設備。

　　實驗概要：

　　搭建非(fei)(fei)線(xian)性超聲測試系(xi)統(tong)，混凝土非(fei)(fei)線(xian)性超聲測試系(xi)統(tong)主(zhu)要包括：信號(hao)發(fa)生(sheng)器(qi)、ATA-2042高壓(ya)放(fang)大(da)(da)器(qi)、數字示波(bo)器(qi)和發(fa)射(she)與接(jie)收換能(neng)器(qi)。信號(hao)發(fa)生(sheng)器(qi)發(fa)射(she)信號(hao)類型為(wei)10個周期的脈沖波(bo)，脈沖頻率為(wei)40kHz。高壓(ya)放(fang)大(da)(da)器(qi)型號(hao)為(wei)ATA-2042，將輸入信號(hao)的峰(feng)值電壓(ya)放(fang)大(da)(da)至50~350V，輸入與輸出電阻均設置(zhi)為(wei)50Ω。數字示波(bo)器(qi)的輸入阻抗為(wei)1MΩ，采樣率為(wei)2.5MS/s，滿足Nyquist-Shannon采樣定理。

　　使用換(huan)能(neng)器(qi)(qi)(qi)與砂(sha)漿試樣之間采用凡士(shi)林進(jin)行耦合(he)，在固定換(huan)能(neng)器(qi)(qi)(qi)前用記(ji)(ji)號筆標記(ji)(ji)測點位置(zhi)，以保(bao)證發射換(huan)能(neng)器(qi)(qi)(qi)與接收(shou)換(huan)能(neng)器(qi)(qi)(qi)均(jun)位于試樣的中心位置(zhi)。使用紙(zhi)巾擦拭砂(sha)漿試樣，避免(mian)換(huan)能(neng)器(qi)(qi)(qi)與試樣間夾(jia)雜(za)灰塵等細顆粒，再將換(huan)能(neng)器(qi)(qi)(qi)通過松緊帶(dai)緊密纏繞并固定在標記(ji)(ji)位置(zhi)。

　　案例二：電壓放大(da)器在微(wei)電極的(de)微(wei)流控芯片研(yan)究中的(de)應(ying)用

　　該實(shi)驗使用了ATA-2042高壓放大器、函數信號(hao)發生器、電導率儀、多通道注射(she)泵、筆記(ji)本電腦、科(ke)研(yan)級攝像頭(tou)、倒(dao)置熒光顯微鏡(jing)等(deng)。

　　實驗概要：

　　搭建進樣(yang)系(xi)(xi)統、觀察(cha)系(xi)(xi)統和(he)激勵(li)信(xin)(xin)(xin)(xin)號(hao)(hao)系(xi)(xi)統三(san)個系(xi)(xi)統，進樣(yang)系(xi)(xi)統由雙通道可調(diao)節流(liu)速的(de)注(zhu)射(she)泵(beng)和(he)兩支1mL一(yi)次(ci)性(xing)注(zhu)射(she)器(qi)(qi)組(zu)成(cheng)(cheng)。觀察(cha)系(xi)(xi)統采用(yong)全程電(dian)子監控(kong)攝像，將(jiang)微(wei)流(liu)控(kong)芯片(pian)放(fang)置(zhi)在顯微(wei)鏡的(de)載物臺，先采用(yong)粗準(zhun)焦螺(luo)旋(xuan)找(zhao)到(dao)微(wei)通道的(de)位置(zhi)，再(zai)采用(yong)細(xi)準(zhun)焦螺(luo)旋(xuan)調(diao)清視野。激勵(li)信(xin)(xin)(xin)(xin)號(hao)(hao)系(xi)(xi)統使(shi)用(yong)函數信(xin)(xin)(xin)(xin)號(hao)(hao)發生器(qi)(qi)作為信(xin)(xin)(xin)(xin)號(hao)(hao)源，在信(xin)(xin)(xin)(xin)號(hao)(hao)輸出后增加了(le)一(yi)級電(dian)壓(ya)放(fang)大器(qi)(qi)，用(yong)于提升系(xi)(xi)統的(de)功率和(he)帶負載能(neng)力。因為信(xin)(xin)(xin)(xin)號(hao)(hao)經過放(fang)大器(qi)(qi)之(zhi)后可能(neng)會(hui)產生改(gai)變，需(xu)要對最終(zhong)輸出的(de)信(xin)(xin)(xin)(xin)號(hao)(hao)使(shi)用(yong)示波器(qi)(qi)進行檢測，看是否達到(dao)實驗所(suo)需(xu)的(de)幅(fu)值和(he)頻率。平口(kou)夾剛好與微(wei)流(liu)控(kong)芯片(pian)的(de)微(wei)電(dian)極(ji)(ji)接口(kou)尺寸一(yi)致，將(jiang)帶導(dao)線的(de)平口(kou)夾與電(dian)極(ji)(ji)接口(kou)緊密連接，信(xin)(xin)(xin)(xin)號(hao)(hao)從(cong)電(dian)壓(ya)放(fang)大器(qi)(qi)輸出之(zhi)后通過平口(kou)夾所(suo)連導(dao)線輸入三(san)維復合微(wei)電(dian)極(ji)(ji)，形(xing)成(cheng)(cheng)閉合回路。

　　案(an)例三：ATA-2042高壓放大器(qi)在MEMS微(wei)結(jie)構模態測試研究(jiu)中的應用

　　該(gai)實(shi)驗使用(yong)了ATA-2042高壓放大器、超(chao)聲(sheng)探(tan)頭、模擬(ni)量輸出板卡(ka)、工業控制計算機、控制器、數據采(cai)集卡(ka)、鉑電阻溫度傳(chuan)感器、數字溫控儀表(biao)等(deng)。

　　實驗概要：

　　采(cai)用(yong)基于空氣耦合(he)超聲(sheng)(sheng)聚(ju)焦換能器裝置發(fa)射的(de)超聲(sheng)(sheng)波對微結構進行激(ji)勵；采(cai)用(yong)激(ji)光多普勒測(ce)(ce)振(zhen)儀裝置檢測(ce)(ce)微結構在高(gao)溫下的(de)振(zhen)動響應信(xin)號(hao)；采(cai)用(yong)電(dian)阻加熱的(de)方(fang)法創造高(gao)溫環境。搭(da)建(jian)包(bao)括溫度控制(zhi)單元、空氣耦合(he)超聲(sheng)(sheng)激(ji)勵單元、激(ji)光多普勒測(ce)(ce)振(zhen)單元的(de)測(ce)(ce)試系(xi)統(tong)。

　　圖：ATA-2042高壓放大器指標參數

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