1. 抖(dou)動(dong)測試　　

抖動測(ce)(ce)試現在越(yue)來越(yue)受到重(zhong)視，因為(wei)專用的抖動測(ce)(ce)試儀器，比如 TIA(時間間隔分析儀)，使用得最多是示波器(qi)加上軟(ruan)件處理。對于這種測試，選(xuan)擇的示波(bo)器，長存儲和高速(su)采樣是(shi)必要條件(jian)，比如(ru) 2M 以上的存儲器，20GSa/s 的采樣速率。不過目前抖動測試，各個公司的解決方案得到結果還有相當差異，還沒有哪個是權威或者行業標準。今(jin)天Aigtek安泰電子就(jiu)帶你具體(ti)了解一下。　

2. 波形測試　　

首先是要(yao)求主機和探(tan)頭一起組成的帶(dai)寬(kuan)要(yao)足夠。基本上測試(shi)系(xi)統的帶(dai)寬(kuan)是測試(shi)信(xin)號帶(dai)寬(kuan)的 3 倍以上就可以了。實際使用中，有一些工程師隨便找一些探頭就去測試，甚至是 A 公司的探頭插到 B 公司的示波器去，這種測試很難得到準確的結果。

波(bo)形測試(shi)是(shi)信號(hao)(hao)完整(zheng)性測試(shi)中最常(chang)用(yong)的(de)(de)手段，一般(ban)是(shi)使用(yong)示波(bo)器進行(xing)，主要(yao)測試(shi)波(bo)形幅(fu)度(du)、邊沿和毛刺等(deng)，通過(guo)測試(shi)波(bo)形的(de)(de)參數，可以看出幅(fu)度(du)、邊沿時間等(deng)是(shi)否滿足(zu)器件(jian)接口電平的(de)(de)要(yao)求(qiu)，有(you)沒有(you)存在信號(hao)(hao)毛刺等(deng)。由于(yu)示波(bo)器是(shi)極為通用(yong)的(de)(de)儀器，幾乎(hu)所有(you)的(de)(de)硬(ying)件(jian)工程師都會使用(yong)，但并(bing)不(bu)表(biao)示大家都使用(yong)得(de)好。波(bo)形測試(shi)也要(yao)遵循一些要(yao)求(qiu)，才能夠得(de)到(dao)準確的(de)(de)信號(hao)(hao)。

其次(ci)要注(zhu)重(zhong)細節。比(bi)如(ru)測試點通(tong)常選擇(ze)放(fang)在接收(shou)器(qi)件的管腳，如(ru)果條件限制(zhi)放(fang)不到上面去的，比(bi)如(ru) BGA 封裝的(de)器(qi)件，可以放(fang)到最(zui)靠近管腳(jiao)的(de) PCB 走線上或者過孔上面。距離接收器件管(guan)腳過(guo)遠(yuan)，因(yin)為信(xin)號反射，可能會(hui)導致測(ce)試結果和實際信(xin)號差異比較大;探頭的地線盡量選擇短地線等。

最后(hou)，需要(yao)(yao)注意一下(xia)匹配。這個主要(yao)(yao)是針對使(shi)用同軸電纜(lan)去(qu)測試的情況，同(tong)軸直(zhi)接接到示波器上去(qu)，負(fu)載通(tong)常是 50 歐姆，并且是直流耦合，而對于某些電路，需要直流偏置，直接將測試系統接入時會影響電路工作狀態，從而測試不到正常的波形。

3.　眼圖測試(shi)　

眼(yan)圖(tu)測試(shi)是常用的測試(shi)手段(duan)，特別(bie)是對于有規范要求的接口，比如 E1/T1、USB、10/100BASE-T，還有光接口等。這些標準接口信號的眼圖測試，主要是用帶 MASK(模板)的示波器，包括通用示波器，采樣示波器或者信號分析儀，這些示波器內置的時鐘提取功能，可以顯示眼圖，對于沒有 MASK 的示波器，可以使用外接時鐘進行觸發。使用眼圖測試功能，需要注意測試波形的數量，特別是對于判斷接口眼圖是否符合規范時，數量過少，波形的抖動比較小，也許有一下違規的情況，比如波形進入 MASK 的某部部分，就可能采集不到，出現誤判為通過，數量太多，會導致整個測試時間過長，效率不高，通常情況下，測試波形數量不少于 2000，在 3000 左右為適宜。

通過以上的(de)介(jie)紹，相(xiang)信您(nin)對(dui)波形測試等三種常(chang)用信號完整性測試有了(le)清晰(xi)的(de)了(le)解(jie)，如(ru)想(xiang)了(le)解(jie)更多有關(guan)應用，請持續關(guan)注安(an)泰(tai)電子官(guan)網hkdyw.cn或撥打029-88865020。Aigtek是國內專業從事測量儀器研發、生產和銷售的高科技企業，一直專注于功率放大器、功(gong)率信號源、功率放大器模塊、射頻功率放大器、微小信號放大器、計量校準源等測試儀器產品的研發與制造。