實驗名稱(cheng)：高壓功率放大器在鋁板結(jie)構(gou)的鹽(yan)酸腐(fu)蝕及模擬損傷(shang)監測研究

　　研究方向：無(wu)損檢(jian)測

　　測試目(mu)的：換能器在結構中激勵出Lamb波信號，Lamb波在結(jie)構(gou)中(zhong)傳(chuan)播時(shi)遇到(dao)損(sun)傷(shang)和邊界(jie)會發生散射和反射現象，基于該現象可以設(she)計(ji)損(sun)傷(shang)定位算法。

　　測試設備(bei)：ATA-4052高壓功率放大(da)器(qi)、信號發生器(qi)(qi)、監測(ce)輸入信號的示波器(qi)(qi)、柔順閥(fa)壓電泵樣機(ji)、盛裝流體(ti)的燒(shao)杯(bei)、測(ce)量質量的電子(zi)天平。

　　實驗過程：通過USB數據線對程控(kong)多通(tong)道(dao)電(dian)荷放(fang)大(da)(da)(da)器(qi)(qi)(qi)(qi)(簡稱程控(kong)放(fang)大(da)(da)(da)器(qi)(qi)(qi)(qi))和系統(tong)控(kong)制(zhi)器(qi)(qi)(qi)(qi)進行(xing)USB通(tong)信(xin)連接(jie)(信(xin)號(hao)流(liu)1)；系統(tong)控(kong)制(zhi)器(qi)(qi)(qi)(qi)控(kong)制(zhi)任意波(bo)形發(fa)生(sheng)卡生(sheng)成幅值(zhi)為(wei)4V中心頻率為(wei)50kHz的(de)(de)五(wu)波(bo)峰(feng)調制(zhi)正弦信(xin)號(hao)，并輸出(chu)(chu)到功率放(fang)大(da)(da)(da)器(qi)(qi)(qi)(qi)(信(xin)號(hao)流(liu)2)；該電(dian)壓信(xin)號(hao)經過功率放(fang)大(da)(da)(da)器(qi)(qi)(qi)(qi)進行(xing)20倍(bei)電(dian)壓放(fang)大(da)(da)(da)并輸出(chu)(chu)至程控(kong)放(fang)大(da)(da)(da)器(qi)(qi)(qi)(qi)(信(xin)號(hao)流(liu)3)；程控(kong)放(fang)大(da)(da)(da)器(qi)(qi)(qi)(qi)選(xuan)(xuan)擇合適的(de)(de)壓電(dian)元件作(zuo)為(wei)驅動器(qi)(qi)(qi)(qi)在結(jie)構(gou)中激勵出(chu)(chu)Lamb波(bo)，并選(xuan)(xuan)擇合適的(de)(de)壓電(dian)件作(zuo)為(wei)傳(chuan)感(gan)器(qi)(qi)(qi)(qi)用來傳(chuan)感(gan)結(jie)構(gou)中的(de)(de)數據。

　　實(shi)驗結(jie)果：圖a)(b)分別為損(sun)(sun)傷(shang)(shang)靠近(jin)傳(chuan)(chuan)感路(lu)徑(jing)(1B-2B)與損(sun)(sun)傷(shang)(shang)遠離傳(chuan)(chuan)感路(lu)徑(jing)(1B-1D)時(shi)的(de)基(ji)準(zhun)信(xin)(xin)(xin)號和(he)損(sun)(sun)傷(shang)(shang)信(xin)(xin)(xin)號，由(you)圖(a)可以看出(chu)，當損(sun)(sun)傷(shang)(shang)靠近(jin)傳(chuan)(chuan)感路(lu)徑(jing)時(shi)，基(ji)準(zhun)信(xin)(xin)(xin)號與損(sun)(sun)傷(shang)(shang)信(xin)(xin)(xin)號在(zai)幅(fu)值上存在(zai)明顯差(cha)異，進面體現(xian)在(zai)以標(biao)準(zhun)差(cha)為定義的(de)不相關系(xi)數(shu)上，因此(ci)監(jian)測系(xi)統對腐蝕損(sun)(sun)傷(shang)(shang)很敏(min)感；而當損(sun)(sun)傷(shang)(shang)遠離傳(chuan)(chuan)感路(lu)徑(jing)時(shi)，基(ji)準(zhun)信(xin)(xin)(xin)號與損(sun)(sun)傷(shang)(shang)信(xin)(xin)(xin)號幾乎一樣，說(shuo)明該路(lu)徑(jing)對損(sun)(sun)傷(shang)(shang)不敏(min)感。

　　為了分析(xi)不(bu)同程度的腐(fu)蝕損傷(shang)對不(bu)相關系數A的(de)(de)影(ying)響，將試驗件的(de)(de)損(sun)(sun)傷狀態分為(wei)三種情況：(a)無損(sun)(sun)傷；(b)輕(qing)度(du)腐(fu)蝕(shi)；(c)重度(du)腐(fu)蝕(shi)。提取換(huan)能器(qi)m2C為(wei)驅(qu)動元件時所有傳(chuan)感(gan)路(lu)徑的(de)(de)不相(xiang)關(guan)(guan)系(xi)數A，不同路(lu)徑的(de)(de)不相(xiang)關(guan)(guan)系(xi)數值用(yong)不同標記表(biao)示。當腐(fu)蝕(shi)損(sun)(sun)傷距離傳(chuan)感(gan)路(lu)徑越(yue)近，其(qi)不相(xiang)關(guan)(guan)系(xi)數值越(yue)大(da)(da)；當腐(fu)蝕(shi)損(sun)(sun)傷距離傳(chuan)感(gan)路(lu)徑越(yue)遠，其(qi)不相(xiang)關(guan)(guan)系(xi)數值越(yue)小，驗證了本文(wen)提出的(de)(de)用(yong)標準差定義(yi)為(wei)不相(xiang)關(guan)(guan)系(xi)數的(de)(de)可(ke)行性。同樣，從圖中(zhong)還(huan)可(ke)以看出，腐(fu)蝕(shi)程度(du)從無損(sun)(sun)傷到輕(qing)度(du)腐(fu)蝕(shi)，再到重度(du)腐(fu)蝕(shi)，對應路(lu)徑的(de)(de)不相(xiang)關(guan)(guan)系(xi)數值逐漸(jian)增(zeng)大(da)(da)。

　　安泰ATA-4052高壓功(gong)率(lv)放大(da)器(qi)的指標(biao)參(can)數：

　　本文實驗素材由西安安泰電子整理發布，西安(an)安(an)泰(tai)電子是專業從事功率放大器、高壓放大器、功率信號源、前置微小信號放大器、高精度電壓源、高精度電流源、功率放大器模塊等電子測量儀器研發、生產和銷售的高科技企業。公司致力于功率放(fang)大(da)器、功率信(xin)號源、計量校準源等產品為(wei)核(he)心的(de)(de)(de)相關行(xing)業(ye)測(ce)試解決方(fang)案的(de)(de)(de)研究，為(wei)用(yong)戶提供具有(you)(you)(you)競爭力的(de)(de)(de)測(ce)試方(fang)案，Aigtek已經(jing)成為(wei)在業(ye)界擁有(you)(you)(you)廣泛(fan)產品線，且具有(you)(you)(you)相當(dang)規模(mo)的(de)(de)(de)儀(yi)器設備供應商，樣機都支(zhi)持免費試用(yong)。如想了解更多實驗方(fang)案，請持續關注安(an)泰電子(zi)官網hkdyw.cn或(huo)撥(bo)打029-88865020。