功率放大器在三維超聲振動臺性能測試中的應用
實驗名稱: 三維超聲振動臺性能測試
研究方(fang)向:微(wei)納加工(gong)
實(shi)驗內容:在傳統探(tan)針納(na)米刻劃加工(gong)的基礎上,加工(gong)一維/二維的超聲振動,可有效提高加工效率,并減小探針磨損和材料堆積,本實驗意在測試所設計的三維超聲振動臺的相關性能,看是否滿足加工需求。
測試目的(de):標定振動臺的(de)工作性能(neng)
測試設備: 自研三維超聲振動臺、多普勒激光測振儀、DAQ采集卡、功率放大器、壓電陶瓷
功(gong)率放大器型號: ATA-2082
實驗過程:
三維超聲振動臺具有xyz三個方向的自由度,每個方向由一個單獨的壓電陶瓷片驅動,可在振動輔助加工過程中,提供一維或二維的振動輔助,在實驗過程中,首先由信號發生器發出控制信號,然后經過ATA-2082高壓放大器,對(dui)控制(zhi)信號的(de)(de)電壓(ya)(ya)和功率(lv)(lv)進行(xing)放(fang)大,驅動壓(ya)(ya)電陶瓷(ci)片輸出位移信號,并(bing)由多普勒激光測(ce)振(zhen)儀(yi)進行(xing)信號的(de)(de)采(cai)集(ji)。測(ce)試(shi)分別對(dui)三個方向(xiang)的(de)(de)不同(tong)頻率(lv)(lv)、不同(tong)電壓(ya)(ya)下(xia)的(de)(de)一維(wei)振(zhen)動,以及xy和xy的不同相位差下二維振動進行了實驗。

實驗結(jie)果:
如圖所示,在(zai)不(bu)同(tong)(tong)(tong)(tong)驅(qu)動(dong)電(dian)壓(ya)下,輸出(chu)位(wei)移(yi)(yi)呈現(xian)線性增(zeng)加;在(zai)不(bu)同(tong)(tong)(tong)(tong)驅(qu)動(dong)頻率下,開(kai)始位(wei)移(yi)(yi)信號(hao)(hao)保(bao)持不(bu)變,但隨(sui)著驅(qu)動(dong)頻率逐(zhu)漸(jian)接近(jin)振動(dong)臺的(de)(de)固有頻率,位(wei)移(yi)(yi)信號(hao)(hao)開(kai)始增(zeng)大(da);二維振動(dong)同(tong)(tong)(tong)(tong)樣表(biao)現(xian)與隨(sui)相位(wei)差的(de)(de)變化,而表(biao)現(xian)出(chu)不(bu)同(tong)(tong)(tong)(tong)的(de)(de)形(xing)狀。在(zai)整個(ge)(ge)過程中驅(qu)動(dong)壓(ya)電(dian)穩(wen)(wen)定,位(wei)移(yi)(yi)信號(hao)(hao)與預期(qi)一(yi)致(zhi),兩(liang)個(ge)(ge)通道可同(tong)(tong)(tong)(tong)時輸出(chu),且在(zai)達(da)到超(chao)聲頻率時,最大(da)輸出(chu)電(dian)壓(ya)仍可穩(wen)(wen)定輸出(chu)。




功(gong)率放大器在該實驗(yan)中(zhong)發揮的(de)效(xiao)能: 為信號發生器發出的信號進行電壓與功率的放大,ATA-2082的功率與本實驗所采用的壓電陶瓷片匹配,雙通道可提供兩個方向的信號放大,且兩信號相位差定。
ATA-2082功率放大器參(can)數指標:
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