實驗名稱：功率放大器在鋼板表面缺陷及其偏角的多頻(pin)交(jiao)流漏磁(ci)測試中的(de)應用

研(yan)究方向(xiang)：電(dian)磁無損檢(jian)測(ce)

實驗(yan)目的：驗(yan)證(zheng)多頻交(jiao)流漏磁(ci)方法在缺陷偏(pian)角識別(bie)以及(ji)尺(chi)寸量化(hua)方面的優(you)越性。

實驗內容：

對比單頻(pin)與(yu)多頻(pin)激勵下，交流漏磁探(tan)頭對鋼板表面缺陷及其偏角的敏感性。

激勵波型由函數(shu)發生(sheng)器(qi)產生(sheng)，該波被轉換(huan)成(cheng)電壓信號(hao)，并由恒壓ATA-3080功率放大器放大，以增強激勵磁場。接收線圈安裝在激勵線圈下方的探頭中心。接收線圈的提離約為1mm。接收信號由多功能濾波器調節降噪處理，然后由混合信號示波器進行數字化顯示。在多頻激勵實驗中，混頻激勵信號由400Hz和500Hz組成。該多功能濾波器可實現截止頻率和增益的信號濾波可根據需要進行配置。實驗中，截止頻率設置為1 kHz，增益設置為20 dB。

實驗過程(cheng)：

篩選多個測量目標的敏感頻率，采用多頻技術，將多個最優激勵信號混疊為一個合成激勵信號，通過功率放大器放大，加載在檢測探頭上；通過磁敏元件拾取缺陷附近的漏磁場，用以表征缺陷。

實驗結果：

對比了(le)單頻激勵和(he)多頻激勵下的實驗結果，驗證(zheng)了(le)多頻交流漏磁方法(fa)在識別缺(que)陷(xian)方向方面的優勢，因為(wei)該方法(fa)具有更好的信(xin)號靈(ling)敏(min)度(du)；而單頻和(he)多頻信(xin)號對鋼板缺(que)陷(xian)深度(du)的檢(jian)測靈(ling)敏(min)度(du)相似但(dan)多頻信(xin)號由于其信(xin)號強度(du)更大，更適合量化缺(que)陷(xian)深度(du)。

放大器在該(gai)實(shi)驗中(zhong)發揮的效(xiao)能: 實現激勵信號0-60倍的功率放大，提高系統的抗干擾能力，提升信號信噪比

您選擇該放(fang)大器(qi)的原因: 功率放大能力強，可實現60倍放大；旋鈕操作簡便。

實驗中用到的功率放大器ATA-3080參數指標：

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